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產(chǎn)品特點：

◆ 掃描電鏡下的原位拉伸臺試驗機，在線觀測微型材料高溫力學(xué)實驗機；

◆ 凱爾測控 原位拉伸臺適合多種顯微觀測系統(tǒng)，比如掃描電鏡、投射電鏡、光學(xué)顯微鏡、共聚焦顯微鏡等；

◆ 可實現(xiàn)原位“拉伸—剪切”、“壓縮—剪切”、“單軸拉伸/壓縮”、“純剪切”及疲勞力學(xué)測試等多重測試模式，實現(xiàn)原位復(fù)合載荷測試薄膜及細絲力學(xué)實驗；

◆ 也可獨立使用測定材料力學(xué)參數(shù)；同時由于結(jié)構(gòu)緊湊微小、充分考慮了真空兼容性和電磁兼容性，因此可實現(xiàn)與金相顯微鏡、掃描電鏡、拉曼光譜儀、X射線衍射儀、原子力顯微鏡等顯微成像設(shè)備的兼容，所采用的超低速準靜態(tài)加載方式有利于在成像儀器下對載荷作用下材料細微的變形損傷變化狀況進行連續(xù)的高分辨率可視化原位監(jiān)測，便于系統(tǒng)深入的研究揭示載荷作用、材料變形損傷機制與微觀結(jié)構(gòu)變化間的規(guī)律。


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1產(chǎn)品介紹 拷貝11111.jpg111.jpg首圖 拷貝 2.jpg

設(shè)備名稱

掃描電鏡微型原位力學(xué)試驗系統(tǒng)

設(shè)備型號

IBTC-200MINI

最大額定載荷

200N

試驗機級別

0.5級

載荷測量范圍

0.4%~100%F.S.

載荷測量精度

優(yōu)于示值的±0.2%（在載荷測量范圍內(nèi)）

最大疲勞加載頻率

1Hz

作動行程

30mm

位移分辨力

0.1μm

位移加載速率

0.1μm/s-0.5mm/s

適配SEM

ZEISS EV015；賽默飛（FEI）Apreo S等

適配EBSD

否

凈重

約0.9kg

外形尺寸(不含地腳）

約142×92×36（mm）

使用方式

可配合SEM、光學(xué)顯微鏡、DIC系統(tǒng)使用,選配高低溫環(huán)境

選配工裝

拉伸夾具、三點彎夾具、剪切夾具等

適用場合

金屬材料、生物材料、水凝膠、高分子薄膜材料的單軸力學(xué)性能測試


實現(xiàn)原位在線觀測材料在加載過程中微觀組織變化


◇ 微型化設(shè)計，適合SEM、AFM\X射線衍射儀 等空間有限的環(huán)境下使用。

◇ 生物骨材料、生物軟組織材料、高分子材料、金屬薄片材料、陶瓷材料。

◇ 原位拉伸、壓縮、循環(huán)性能研究 ，可在SEM內(nèi)部在線使用或獨立使用。

◇ 適配部分SEM、OM、AFM\STM，可實現(xiàn)力學(xué)加載下的顯微形貌觀測，尺寸可定制，滿足載物臺著涼需求。

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掃描電鏡原位拉伸臺的標準功能包括拉伸試驗、壓縮試驗、蠕變試驗、松弛試驗、疲勞試驗、彎曲試驗和自定義試驗，特點是可以配合SEM觀測系統(tǒng)使用，實現(xiàn)在加載過程中試樣微觀組織演化規(guī)律的在線表征。具體試驗方式和功能如下：

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